Toepassing van de blootgestelde lineaire schaal in de automatiseringsindustrie

Deblootgestelde lineaire schaalis ontworpen voor gereedschapsmachines en systemen die zeer nauwkeurige metingen vereisen en elimineert de fout en omgekeerde fout die worden veroorzaakt door de temperatuurkarakteristieken en bewegingskarakteristieken van de kogelomloopspindel.

Toepasselijke industrieën:
Meet- en productieapparatuur voor de halfgeleiderindustrie
Machine voor het monteren van printplaten
Precisiemachinegereedschap
Hoge precisie machinegereedschap
Meetmachines en comparatoren, meetmicroscopen en andereprecisiemeetapparatuur

Toepassing en introductie van serieproducten:
De lineaire roosterleeskop uit de LS40-serie is geschikt voor de ultradunne roestvrijstalen M4-schaal met een roosterafstand van 40 μm. De toepassing van single-field scanning en subdivision processing met lage latentie zorgt voor uitstekende dynamische prestaties.
De lineaire roosterweegschaal uit de RU-serie is een incrementele roosterweegschaal van 20 μm, ontworpen om feedback te leveren voor zeer nauwkeurige lineaire metingen. De schaal maakt gebruik van geavanceerde interferentieroosterlijnmarkeringstechnologie en de roosterlijnfout wordt beperkt tot minder dan 40 nm. De schaal is gemaakt van hoogwaardige, corrosiebestendige speciale materialen. Roestvrij staal garandeert langdurig en stabiel gebruik.
De incrementele leeskoppen uit de RX-serie zijn uitgerust met een geavanceerde optische nulpositiesensor van RH Optics. Ze maken gebruik van de meest geavanceerde single-field nulpuntscantechnologie, geavanceerde automatische versterking en automatische afwijkingscorrectietechnologie van Handing Optical. Ze hebben een lage elektronische onderverdelingsfout, een sterke antivervuilingsprestatie en zijn compatibel met lineaire roosterschalen en ringroosters.

Mechanische structuur:
De blootgestelde lineaire schaalBevat een stalen meetlint en een contactloze leeskop. De stalen meetlint van de open lineaire meetlint is direct op het montageoppervlak bevestigd, waardoor de vlakheid van het montageoppervlak de nauwkeurigheid van de lineaire meetlint beïnvloedt.