Model | HD-9685VH | |
Beeldsensor | 20 miljoen pixels CMOS*2 | |
lichtontvangende lens | Bi-telecentrische lens | |
Verticaal verlichtingssysteem | Witte LED-ringspot met opbouw | |
Horizontaal verlichtingssysteem | Telecentrische parallelle Epi-Light | |
Objectweergave | verticaal | 90*60mm |
horizontaal | 80*50mm | |
Herhaalbaarheid | ±2um | |
meetnauwkeurigheid | ±3um | |
Software | FMES V2.0 | |
Draaitafel | diameter | φ110mm |
laden | <3 kg | |
rotatiebereik | 0,2-2 omwentelingen per seconde | |
Verticaal lensliftbereik | 50 mm, automatisch | |
Stroomvoorziening | AC 220V/50Hz | |
Werkomgeving | Temperatuur: 10~35℃, vochtigheid: 30~80% | |
Vermogen van de apparatuur | 300W | |
Monitor | Philips 27" | |
Computerhost | Intel i7+16G+1TB | |
Meetfuncties van de software | Punten, lijnen, cirkels, bogen, hoeken, afstanden, parallelle afstanden, cirkels met meerdere punten, lijnen met meerdere punten, bogen met meerdere segmenten, R-hoeken, doosvormige cirkels, punten identificeren, puntenwolken, enkele of meervoudige snelle metingen. Snijpunten, parallel, halveren, loodrecht, raaklijn, hoogste punt, laagste punt, schuifmaat, middelpunt, middellijn, hoekpuntlijn, rechtheid, rondheid, symmetrie, loodrechtheid, positie, parallelliteit, positietolerantie, geometrische tolerantie, maattolerantie. | |
Software-markeringsfunctie | Uitlijning, verticaal niveau, hoek, straal, diameter, oppervlakte, omtrekmaat, spoeddiameter, batchmaat, automatische beoordeling NG/OK | |
Rapportagefunctie | SPC-analyserapport, (CPK.CA.PPK.CP.PP) Waarde, procescapaciteitsanalyse, X-controlekaart, R-controlekaart | |
Rapportuitvoerformaat | Word, Excel, TXT, PDF |
Wij ontwikkelen altijd overeenkomstigeoptische meetapparatuurals antwoord op de vraag van marktklanten naar nauwkeurige, voortdurend bijgewerkte afmetingen van producten.
Ja, wij kunnen de meeste documentatie verstrekken, waaronder analyse-/conformiteitscertificaten, verzekeringen, herkomstcertificaten en andere exportdocumenten indien vereist.